磁性法和渦流法的測量技術介紹

磁性法和渦流法的測量技術

  磁性法和電渦流法的測厚儀原理見圖

磁性法：當探測頭與覆蓋層接觸時，探測頭的磁頭與磁性金屬基體構成一個閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，導致磁通量的變化。一般覆蓋層的厚度越厚，磁通量越小，感應電動勢越小。通過測量其變化，可導出覆蓋層的厚度。

渦流法：利用高頻交變電流在探測頭的線圈中產生高頻交變電場，當探測頭與覆蓋層接觸時，探測頭下面的導體產生電漏流，并對探測頭中線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。