x射線測量技術介紹

x射線測量技術介紹

       x 射線傳感器的射線源有兩種：同位素 x 射線放射源和 x 光管。穿透式 x 射線厚度傳感器遵循比爾吸收定律；反射式 x 射線傳感器符合材料熒光分析技術，所以反射式 x 射線傳感器也稱之為 x 射線熒光分析傳感器。反射式 x 射線傳感器利用 x 射線擊飛被測量材料的內層電子，造成被測量材料的外層電子向內層躍遷并放出 x 射線的特性，測量被測材料的厚度6。在實際應用中，同位素 x 射線放射源很少被用于穿透式傳感器。 x 射線傳感器在測量鋁箔、塑料薄膜、薄鋼板等材料的厚度時，都有廣泛的應用，表1-2為穿透式 x 射線測厚儀的分類。

 x 射線測量技術的有點主要表現在：
①適合測量單一元素的材料，測量單一元素材料時精度高；

②不受被測量材料顏色等影響；
③ x 光管傳感器不通電時，沒有放射性，運輸方便；