X射線測厚儀產生漂移的原因分析

X射線測厚儀產生漂移的原因分析

     在測量過程中，X射線測厚儀有可能隨著環境的變化和時間的推移使測量結果產生漂移，產生漂移的原因有：

（1）       X射線電源不穩定產生的漂移；

（2）       測頭由于密封或絕緣不好導致的漂移；

（3）       放大器不穩定產生的漂移；

（4）       電離室窗口積累的油漬太多等多種原因。

     為了防止漂移帶來的誤差，一般測厚儀每隔8個小時進行一次系統校驗，來修正偏差，如果校驗后仍不行，則需要做全標準化。