分析鍍層厚度測試方法、測試原理
鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。 檢測方法有 1、金相法 2、庫侖法 3、X-ray 方法 .
適用范圍
金相法： 采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um，才能保證測量結果在誤差范圍之內;厚度越大，誤差越小。
庫侖法： 適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray 方法： 適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金(Au)，銀(Ag)，錫(Sn)，銅(Cu)，鎳(Ni)，鉻(Cr)等金屬元素厚度。 本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。
測試原理
金相法： 利用金相顯微鏡原理，對鍍層厚度進行放大，以便準確的觀測及測量。
庫侖法： 利用適當的電解液陽極溶解精確限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質上完全溶解，經過所耗的電 量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時，可由試驗開始到試驗終止的時間計算;用非恒定電流密度溶解時，由累積所耗電量計算，累積所耗電量由電量計累計顯示。
X-ray 方法： X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量(若密度已知，則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。
